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平面激光诱导荧光诊断系统(PLIF)

特别说明

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定制说明:一切规格按照客户实际情况或考察后量身定制,支持非标定制。

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厂商品牌:
产品性质:平面激光诱导荧光诊断系统(PLIF)是利用激光诱导荧光(LIF)技术实现物质分布探测的软硬件平台。它由 专业的激光光源、精密的光学整形成像机构、高灵敏度的探测相机等设备以及完善的系统软件构成。该系统广泛应 用于化学燃烧、等离子体等复杂环境,是这些领域内开展科学以及应用研究的重要工具。PLIF系统常见的诊断目标 有OH、CH、NO等分子,结合分子辐射光谱理论以及其他辅助手段,PLIF技术还可用于温度、浓度、速度等参数的 定量测量研究。
发布时间:2026-09-29
详细介绍


激光诱导荧光技术(Laser-Induced Fluorescence, LIF)是一种基于物质受激光激发后产生荧光信号的分析方 法,其核心原理涉及光与物质的相互作用及能量转换过程:当特定波长的激光照射到目标物质(如分子、原子或离 子)时,若光子能量恰好等于该物质不同能态之间的能量差,物质会吸收光子并跃迁至高能态,处于高能态的分子 不稳定,会通过非辐射弛豫(如分子碰撞)快速降至高能态的最低振动能级,再通过自发辐射释放能量,返回基态 并发射荧光光子。

平面激光诱导荧光系统(PLIF)是利用激光与物质相互作用,实现物质 分布探测的一种诊断技术。该技术的常见应用目标组分有OH、CH、NO等, 它们是燃烧过程中重要的中间产物,其测试结果可以为相关领域的理论以及试验研究提供重要的参考数据。同时,结合分子辐射光谱理论以及其它测试手段,PLIF技术还可用于温度、浓度、速度等参数的定量测量研究。



系统参数

 

硬件参数

工作频率

10Hz

时间分辨率

≤10ns

空间尺度

≥50mm×50mm

探测组分

OH、NO

 

软件功能

设备控制

设备的软件独立控制以及系统运行过程中的流程控制

荧光探测

常见组分的荧光基础数据库

荧光信号的探测与显示,自定义信号分析

定制操控

自定义脚本支持,满足用户个性应用需求

部件参数

 

光源参数

工作频率

10Hz

输出能量

≥5mJ@282nm、≥2mJ@226nm

脉宽

≤10ns

输出线宽

≤0.2cm-1

片光尺度

≥50mm

 

探测系统

工作距离

≥300mm

分辨率

1600×1088

光学增益

≥3000

最短曝光

3ns

系统拓展

参数拓展

工作频率

50Hz、100Hz、1kHz、100kHz、500KHZ……

探测组分

CH、CN、NH、H、O、N……

 

功能拓展

速度测量

MTV

温度诊断

DPLIF 、FRS、 CARS

浓度测量

SRS、FRS、LIBS

流动显示

激光纹影、丙酮PLIF等

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